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Revealing Decay Mechanisms of H2O2?Based Electrochemical Advanced Oxidation Processes after Long-Term Operation for Phenol Degradation
揭示了長期運行的H2O2基電化學高級氧化降解苯酚的機理
來源:Environ. Sci. Technol. 2020, 54, 10916?10925
摘要核心發(fā)現(xiàn)
本研究首次系統(tǒng)揭示了H?O?基電化學高級氧化過程(EAOPs)長期運行后陰極衰減機制:
1.性能衰減對比:
單純H?O?電解陰極衰減僅17.8%,而電芬頓(EF)、光電解H?O?(PEH)、光電芬頓(PEF)系統(tǒng)陰極衰減分別達90.1%、60.0%、89.6%(圖2A);

2.衰減主因:
·OH侵蝕誘導活性位點從兩電子氧還原(ORR)轉(zhuǎn)向四電子ORR(生成H?O而非H?O?),電流效率(CE)從84±5%降至最低14.7%(圖2B);
3.協(xié)同效應(yīng):
鹽沉淀(NaOH)、鐵污染(Fe(OH)?)、有機物吸附共同加速衰減,其中鐵污染使電化學活性面積下降37.9-40.1%(表1)。

研究目的
1.破解穩(wěn)定性瓶頸:
解決EAOPs實際應(yīng)用中電極壽命短的問題(現(xiàn)有研究多<10循環(huán));
2.量化衰減因素:
解析鹽沉淀、·OH侵蝕、鐵污染、有機物吸附對陰極H?O?產(chǎn)率的貢獻權(quán)重;
3.指導陰極設(shè)計:
為高穩(wěn)定性陰極開發(fā)提供理論依據(jù)。
研究思路
1. 系統(tǒng)構(gòu)建與長期運行
三類EAOP系統(tǒng):
電芬頓(EF)、光電解H?O?(PEH)、光電芬頓(PEF);
陰極設(shè)計:
采用低成本滾動式空氣呼吸陰極(ABC),H?O?初始產(chǎn)率312±22 mg·L?1·h?1(CE=84±5%);
長期測試:
200小時連續(xù)運行(電流密度10 mA·cm?2),苯酚初始濃度100 mg·L?1。
2. 多維度衰減機制解析
電化學分析:
線性掃描伏安(LSV)、循環(huán)伏安(CV)、計時電流(CA)監(jiān)測活性位點變化;
物理表征:
掃描電鏡(SEM)、X射線光電子能譜(XPS)、拉曼光譜(Raman)揭示表面侵蝕(圖3-4);

丹麥Unisense電極應(yīng)用:
原位監(jiān)測反應(yīng)器內(nèi)H?濃度(圖5A),排除析氫反應(yīng)(HER)干擾。

關(guān)鍵數(shù)據(jù)及研究意義
1. 污染物降解動力學(圖1)

數(shù)據(jù):
PEF系統(tǒng)60分鐘TOC去除率92±4%(vs. EF系統(tǒng)57±5%),證實紫外光協(xié)同提升礦化效率(圖1C);
H?O?累積曲線顯示PEF系統(tǒng)H?O?消耗速率最快(圖1D),與·OH生成量正相關(guān)。
意義:
驗證EAOPs高效降解能力,但H?O?快速消耗預示陰極持續(xù)高負荷運行風險。
2. 陰極H?O?產(chǎn)率衰減(圖2)
數(shù)據(jù):
C#EF(電芬頓陰極)H?O?產(chǎn)率從312降至46 mg·L?1·h?1(衰減85.3%);
C#H?O?(單純電解)僅衰減17.8%(圖2A)。
意義:
·OH侵蝕是衰減主因,鐵污染(EF/PEF系統(tǒng))加劇性能劣化。
3. 表面侵蝕與污染(圖3-4)
數(shù)據(jù):
SEM顯示EF陰極表面覆蓋紅褐色Fe(OH)?沉淀(圖3H),EDX證實Fe含量達25 atom%;
拉曼ID/IG值從0.25(新陰極)升至0.43(EF陰極),表明·OH誘導碳缺陷增加(圖4B)。
意義:
物理堵塞與化學侵蝕協(xié)同降低活性位點可利用性。
4. 電化學活性變化(圖2B)
數(shù)據(jù):
C#PEF陰極還原峰電流(jp)衰減57.1%,但電荷轉(zhuǎn)移電阻僅增加32.3%;
CA測試顯示穩(wěn)態(tài)電流衰減幅度(16.1-32.3%)遠低于H?O?產(chǎn)率衰減(60-90%)。
意義:
陰極未完全失活,但·OH侵蝕使活性位點轉(zhuǎn)向四電子ORR路徑。
丹麥Unisense電極的核心價值
技術(shù)原理
微傳感器原位監(jiān)測:
采用H?微傳感器(型號未注明)實時測量密閉反應(yīng)器內(nèi)溶解H?濃度(實驗部分);
秒級響應(yīng):
時間分辨率<1秒,捕捉H?生成瞬態(tài)動力學(圖5A插圖)。
關(guān)鍵發(fā)現(xiàn)
1.排除HER競爭路徑:
Unisense數(shù)據(jù)顯示所有陰極H?濃度<1.9 μM(圖5A),證實析氫反應(yīng)(HER)對H?O?衰減貢獻可忽略(<0.1%);
2.機制驗證:
H?濃度無顯著升高(vs. H?O?驟降),支持“ORR路徑轉(zhuǎn)變”而非“活性位點失活”假說;
3.系統(tǒng)密閉性保障:
避免傳統(tǒng)氣相色譜取樣導致的壓力擾動與·OH損失。
不可替代性
傳統(tǒng)方法局限:
離線檢測破壞系統(tǒng)密閉性,無法獲取實時動態(tài)數(shù)據(jù);
Unisense優(yōu)勢:
原位、連續(xù)、無擾動監(jiān)測為衰減機制解析提供直接證據(jù),尤其適用于密閉EAOP反應(yīng)器。
結(jié)論
1.衰減主機制:
長期·OH侵蝕誘導陰極活性位點從兩電子ORR轉(zhuǎn)向四電子ORR,H?O?產(chǎn)率下降60-90%;
2.協(xié)同劣化因素:
鹽沉淀(NaOH)阻塞孔隙(比表面積下降35.4%),鐵污染(Fe(OH)?)覆蓋活性位點(Fe含量達25 atom%),有機物吸附降低傳質(zhì)效率;
3.解決路徑:
異位H?O?合成策略可隔離陰極與·OH/污染物,延長電極壽命(文中提及未展開)。
Unisense技術(shù)貢獻:其原位H?監(jiān)測能力是排除HER干擾、鎖定ORR路徑轉(zhuǎn)變的關(guān)鍵工具,為EAOPs衰減機制研究提供新范式。
圖示關(guān)聯(lián):
圖1:污染物降解動力學與H?O?累積曲線
圖2:陰極H?O?產(chǎn)率衰減與電化學指標對比
圖3:陰極表面形貌與元素分布(SEM/EDX)
圖4:表面化學狀態(tài)(XPS/Raman)
圖5A:Unisense原位H?監(jiān)測數(shù)據(jù)
表1:陰極孔結(jié)構(gòu)參數(shù)(BET結(jié)果)